显微熔点仪-SGW X-4产品参数
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）
                       ±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时）
温度显示最小值： 1℃
熔点观察方式 单目显微镜
光学放大倍数 40× 

显微熔点仪-SGW X-4产品用途
测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。

显微熔点仪-SGW X-4主要特点
既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。